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SunScan植物冠層分析儀在測量大豆葉面積指數(shù)中的應(yīng)用

2023年07月31日 08:50:09      來源：南京銘奧儀器設(shè)備有限公司 >> 進(jìn)入該公司展臺      閱讀量：16

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SunScan植物冠層分析儀是一種利用間接測量法觀測葉面積指數(shù)（LAI）的儀器，通過給定反映植被幾何特征的橢球體葉傾角分布參數(shù)（ELADP），測量透射率獲得LAI。于2005、2006年在黑龍江省嫩江縣鶴山農(nóng)場布設(shè)大豆試驗地，通過比較LI-3100葉面積儀直接測量的LAI和SunScan冠層分析儀間接測量的LAI，得出ELADP率定結(jié)果，并驗證了SunScan冠層分析儀測量LAI的精度。結(jié)果表明：用SunScan測量大豆冠層LAI時，ELADP取值為4．0；設(shè)定該參數(shù)后，SunScan測量的LAI與LI-3100測量結(jié)果一致，二者擬合的線性回歸方程顯著；隨生長季葉面積的變化，SunScan測量誤差略有變化；播種后50～85d，Sun—Scan觀測值偏低7．2％，播種96d以后觀測值偏高12．5％，播種后85～96d與LI-3100觀測值十分接近，誤差只有2．0％；經(jīng)過參數(shù)率定后的SunScan測量LAI效果較好。

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